Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: подложка-пленка-защитный слой. Изложены физические основы работы такой структуры в режимах прохождения ТЕ- и ТМ-поляризованных световых волн в том числе и с полным внутренним отражением на нижней границе раздела диэлектрических сред. Получены формулы для нахождения амплитудных и энергетических коэффициентов отражения и пропускания диэлектрических пленок. Исследованы зависимости таких коэффициентов от длины волны углов наклона и состояния поляризации световых волн а также от оптической толщины пленок. Включены вопросы задачи и расчетно-графические задания способствующие более глубокому пониманию физических процессов распространения и преобразования световых волн в тонких диэлектрических пленках и методов их компьютерного моделирования. Предназначено для магистров и бакалавров по направлениям 12.03.02 - Оптотехника 12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика 12.04.02 - Оптотехника а также для аспирантов по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы.

ВО - Бакалавриат