Оптические свойства тонких диэлектрических пленок (Record no. 1021810)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03605nam a22002891 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле 7915
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20240314225844.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr bn uu|uu
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 220302s2019 ru | 000 0 rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785778239746
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGUA
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGUA
Правила каталог. PSBO
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 539
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК 223
Источник индекса rubbk
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК 12.03.02
Источник индекса okso
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК 12.03.03
Источник индекса okso
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК 12.04.02
Источник индекса okso
100 1# - Автор
Автор Твердохлеб, Петр Васильевич
9 (RLIN) 320968
245 10 - Заглавие
Заглавие Оптические свойства тонких диэлектрических пленок
Физический носитель [Электронный ресурс]
Продолж. заглавия Учебное пособие
260 ## - Выходные данные
Место издания Новосибирск
Издательство Новосибирский государственный технический университет (НГТУ)
Дата издания 2019
300 ## - Физическое описание
Объем 87 с.
520 3# - Аннотация
Аннотация Пособие посвящено изучению отражающих и пропускающих свойств тонких диэлектрических пленок с единых позиций волновой теории электромагнитного поля. Моделью пленки является трехслойная диэлектрическая структура: подложка-пленка-защитный слой. Изложены физические основы работы такой структуры в режимах прохождения ТЕ- и ТМ-поляризованных световых волн в том числе и с полным внутренним отражением на нижней границе раздела диэлектрических сред. Получены формулы для нахождения амплитудных и энергетических коэффициентов отражения и пропускания диэлектрических пленок. Исследованы зависимости таких коэффициентов от длины волны углов наклона и состояния поляризации световых волн а также от оптической толщины пленок. Включены вопросы задачи и расчетно-графические задания способствующие более глубокому пониманию физических процессов распространения и преобразования световых волн в тонких диэлектрических пленках и методов их компьютерного моделирования. Предназначено для магистров и бакалавров по направлениям 12.03.02 - Оптотехника 12.03.03 - Фотоника и оптоинформатика 12.04.02 - Оптотехника а также для аспирантов по специальности 05.11.07 Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы.
540 ## - Примечание об условиях использования и воспроизведения
Terms governing use and reproduction ВО - Бакалавриат
650 #4 - Тематические рубрики
Основная рубрика Физико-математические науки
Основная подрубрика Физика твердого тела. Кристаллография
Источник рубрики local
9 (RLIN) 33553
655 04 - Термин индексирования — жанр/форма
Жанр/форма Учебное пособие
Источник термина local
9 (RLIN) 12755
856 4# - Электронный адрес документа
Имя сервера/домена znanium.com
Помощь ebs_support@infra-m.ru
Примечание НИЦ ИНФРА-М
URL <a href="https://znanium.com/catalog/document?id=397346">https://znanium.com/catalog/document?id=397346</a>
Справочный текст ЭБС Знаниум
856 41 - Электронный адрес документа
Имя сервера/домена znanium.com
Путь /cover/1867
Электронное имя 1867915.jpg
Тип электронного формата image/jpeg
URL <a href="https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg">https://znanium.com/cover/1867/1867915.jpg</a>
Справочный текст ЭБС Знаниум
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 1021810

No items available.