Диагностика наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках методом РОР-спектроскопии М. С. Афанасьев, В. К. Егоров, Г. В. Чучева [и др.]
Material type: ArticleSubject(s): многокомпонентные оксиды | пленки | оксид магния | ионо-пучковая диагностика | резерфордовское рассеивание | наноразмерные системы In: Наноматериалы и наноструктуры международный научно-технический и теоретический журнал 2011. - №3. - С. 50-56No physical items for this record
Библиогр.: 13 назв.
There are no comments on this title.