Методы сканирующей силовой микроскопии [Электронный ресурс] учебное пособие Н. А. Давлеткильдеев, И. А. Лобов, Е. Ю. Мосур, Д. В. Соколов
Material type:![Text](/opac-tmpl/lib/famfamfam/BK.png)
Библиогр.: с. 44.
Изложены физические основы сканирующей силовой микроскопии, описаны методы статической и динамической атомно-силовой микроскопии, сканирующей силовой микроскопии зонда Кельвина.Содержит задания для практических работ. Для студентов бакалавриата и магистратуры физического факультета, изучающих дисциплины Современные методы исследования вещества и Микроскопические методы исследования биоструктур.
Режим доступа: электронная библиотечная система Университетская библиотека ONLINE, требуется авторизация
There are no comments on this title.