Методы сканирующей силовой микроскопии [Электронный ресурс] учебное пособие Н. А. Давлеткильдеев, И. А. Лобов, Е. Ю. Мосур, Д. В. Соколов

Contributor(s): Давлеткильдеев, Н. А | Лобов, И. А | Мосур, Е. Ю | Соколов, Д. ВMaterial type: TextTextPublication details: Омск Омский государственный университет им. Ф.М. Достоевского (ОмГУ) 2020Description: 44 с. илISBN: 9785777924872Subject(s): Учебник для высшей школы | Other classification: 22.338я73 Online resources: ЭБС Университетская библиотека онлайн Abstract: Изложены физические основы сканирующей силовой микроскопии, описаны методы статической и динамической атомно-силовой микроскопии, сканирующей силовой микроскопии зонда Кельвина.Содержит задания для практических работ. Для студентов бакалавриата и магистратуры физического факультета, изучающих дисциплины Современные методы исследования вещества и Микроскопические методы исследования биоструктур.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
    Average rating: 0.0 (0 votes)
No physical items for this record

Библиогр.: с. 44.

Изложены физические основы сканирующей силовой микроскопии, описаны методы статической и динамической атомно-силовой микроскопии, сканирующей силовой микроскопии зонда Кельвина.Содержит задания для практических работ. Для студентов бакалавриата и магистратуры физического факультета, изучающих дисциплины Современные методы исследования вещества и Микроскопические методы исследования биоструктур.

Режим доступа: электронная библиотечная система Университетская библиотека ONLINE, требуется авторизация

https://biblioclub.ru/index.php?page=book&id=614054

There are no comments on this title.

to post a comment.