Техническая микроскопия. Практика работы с микроскопами для технических целей Электронный ресурс учебник для вузов Егорова О. В.

By: Егорова, О. ВMaterial type: TextTextPublication details: Санкт-Петербург Лань 2022Edition: 4-е изд., стерDescription: 524 сISBN: 9785811497713Subject(s): Классификация | оптическая схема | микрофотография | микроскоп | проходящий свет | отраженный свет | цифровая камера | дифференциально-интерференционный контраст | призма | Other classification: 22.34я73 Online resources: ЭБС Лань | Online resources: ЭБС Лань Abstract: За последнее время произошли изменения не только в номенклатуре световых микроскопов, но появились и новые направления и виды приборов для технических целей. По-прежнему остаются важными вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем, а также с их тестированием с помощью микроскопических методов исследования. В книге рассмотрены вопросы применения и классификации технических микроскопов, в том числе внимание уделено приборам для микроэлектроники. Представлена методика подбора оптики микроскопов и выбор методов контрастирования для решения задач исследования в различных направлениях. Рассмотрены вопросы стандартизации, методы контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Предложены приёмы настройки основных групп микроскопов. Книга предназначена для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата Материаловедение и технологии материалов, Нанотехнологии и микросистемная техника, Биология, специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, разработчиков оптических систем, сервисных инженеров, менеджеров и маркетологов.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
    Average rating: 0.0 (0 votes)
No physical items for this record

За последнее время произошли изменения не только в номенклатуре световых микроскопов, но появились и новые направления и виды приборов для технических целей. По-прежнему остаются важными вопросы, связанные с технологией изготовления, измерения, оценки качества оптических систем, а также с их тестированием с помощью микроскопических методов исследования. В книге рассмотрены вопросы применения и классификации технических микроскопов, в том числе внимание уделено приборам для микроэлектроники. Представлена методика подбора оптики микроскопов и выбор методов контрастирования для решения задач исследования в различных направлениях. Рассмотрены вопросы стандартизации, методы контроля качества оптических деталей. Приведены основные формулы микроскопии. Предложены приёмы настройки основных групп микроскопов. Книга предназначена для студентов вузов, обучающихся по направлениям подготовки бакалавриата Материаловедение и технологии материалов, Нанотехнологии и микросистемная техника, Биология, специалистов-микроскопистов ЦЗЛ, разработчиков оптических систем, сервисных инженеров, менеджеров и маркетологов.

Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки

There are no comments on this title.

to post a comment.