В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров. Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам, обучающимся по направлениям Радиотехника, Инфокоммуникационные технологии и системы связи, Конструирование и технология электронных средств, Электроника и наноэлектроника, Электроэнергетика и электротехника (уровень магистратура), аспирантам направлений Электроника, радиотехника и системы связи, Электро- и теплотехника.

Книга из коллекции Лань - Инженерно-технические науки