Методы исследования материалов (Record no. 1061410)

000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03091nam a22002771 4500
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20240318231422.0
007 - Кодируемые данные (физ. описан.)
Контрольное поле постоянной длины cr bn uu|uu
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 200604s2013 ru Wk 000 m rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785835315789
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGUA
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGUA
Правила каталог. PSBO
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК [542.8:546](075.8)
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК
Индекс другой классификации/Индекс ББК Г52я73
Источник индекса rubbk
100 1# - Автор
Автор Газенаур, Е. Г.
9 (RLIN) 260194
245 10 - Заглавие
Заглавие Методы исследования материалов
Физический носитель Электронный ресурс
Ответственность Газенаур Е. Г., Кузьмина Л. В., Крашенинин В. И.
260 ## - Выходные данные
Место издания Кемерово
Издательство КемГУ
Дата издания 2013
300 ## - Физическое описание
Объем 336 с.
520 3# - Аннотация
Аннотация В настоящем пособии рассмотрены основы наиболее широко применяемых методов исследования функциональных материалов. В структуру учебного пособия включены контрольные вопросы и тестовые задания, описания лабораторных работ. Учебное пособие адресовано магистрантам химического факультета Кемеровского государственного университета, а также может быть полезно студентам химических и химико-технологических специальностей техникумов и вузов.
540 ## - Примечание об условиях использования и воспроизведения
Terms governing use and reproduction Книга из коллекции КемГУ - Химия
650 #4 - Тематические рубрики
Основная рубрика методы исследования материалов
9 (RLIN) 262539
650 #4 - Тематические рубрики
Основная рубрика техника материаловедение спектральные методы абсорбционная спектроскопия рентгеновская спектроскопия радиоспектроскопические методы лазерная спектроскопия ядерная спектроскопия хроматографические методы анализа электрохимический анализ термический анализ микроскопический анализ световая микроскопия электронная микроскопия растровая электронная микроскопия сканирующие зондовые исследования сканирующая туннельная микроскопия атомно-силовая микроскопия магнитосиловая зондовая микроскопия электроскопические методы исследования магистранты учебные пособия высшее образование электронные ресурсы
9 (RLIN) 262540
695 ## -
-- учебная
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Кузьмина, Л. В.
9 (RLIN) 260193
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Крашенинин, В. И.
9 (RLIN) 260195
856 4# - Электронный адрес документа
URL <a href="http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=44317">http://e.lanbook.com/books/element.php?pl1_id=44317</a>
Справочный текст ЭБС Лань
856 41 - Электронный адрес документа
URL <a href="https://e.lanbook.com/img/cover/book/44317.jpg">https://e.lanbook.com/img/cover/book/44317.jpg</a>
Справочный текст ЭБС Лань
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 1061410

No items available.